Blog Perusahaan Tentang Dewan Evaluasi Konverter Data ADI Daur Ulang: Konverter Kombo ADC/DAC,ADC,DAC

Papan Evaluasi Konverter Data ADI Daur Ulang: Konverter Kombo ADC/DAC, ADC, DAC

Shenzhen Mingjiada Electronics Co., Ltd.adalah daur ulang komponen elektronik yang terkenal secara global. Melalui layanan daur ulang profesional untuk membantu pelanggan mewujudkan nilai dari komponen elektronik yang tidak terpakai, dengan kekuatan ekonomi yang kuat dan sistem layanan yang sempurna, memenangkan kepercayaan dan kerja sama jangka panjang dari banyak pelanggan pabrik dan pedagang.

Proses Daur Ulang:

1. Klasifikasi Inventaris dan Pengajuan Daftar

Klien pertama-tama mengkategorikan stok berlebih, mengidentifikasi nomor model, merek, tanggal produksi, kuantitas, format pengemasan, dan kondisi pengemasan. Daftar inventaris terperinci dapat dikirimkan ke tim penilaian kami melalui email atau faks.

2. Penilaian Profesional dan Penawaran Harga

Setelah menerima daftar, perusahaan kami menyelesaikan penilaian awal dan memberikan proposal penawaran harga dalam waktu 24 jam.

3. Penandatanganan Kontrak dan Pengaturan Logistik

Setelah kesepakatan harga, kontrak daur ulang formal dilaksanakan untuk memperjelas detail transaksi.

4. Pemeriksaan Barang dan Pembayaran Cepat

Setelah tiba di gudang kami, barang menjalani verifikasi kualitas akhir. Setelah pemeriksaan berhasil, pembayaran dijamin dalam waktu tiga hari kerja untuk memastikan pemulihan modal yang cepat. Metode pembayaran yang fleksibel termasuk transfer bank, tunai, atau pengaturan lain yang disesuaikan dengan kebutuhan klien.

I. Papan Evaluasi Konverter Kombinasi ADC/DAC: Solusi Verifikasi Rantai Sinyal Terintegrasi

Papan evaluasi konverter kombinasi ADC/DAC mengintegrasikan komponen konversi analog-ke-digital (ADC) dan konversi digital-ke-analog (DAC) inti. Beberapa varian juga menggabungkan mikrokontroler (MCU), manajemen jam, dan sirkuit antarmuka, membentuk akuisisi data loop tertutup yang lengkap dan sistem pembangkitan sinyal. Hal ini membuatnya cocok untuk skenario verifikasi tingkat sistem yang memerlukan pemrosesan sinyal dua arah. Nilai inti dari papan evaluasi semacam itu terletak pada mereplikasi aliran rantai sinyal dunia nyata, memungkinkan para insinyur untuk dengan cepat memvalidasi kinerja kooperatif dari perangkat gabungan sambil meminimalkan gangguan dan kesalahan yang terkait dengan pengaturan komponen diskrit.

Mengambil papan evaluasi EVAL-ADUCM300QSPZ yang sesuai dengan ADuCM300 ADI sebagai contoh, papan ini berfungsi sebagai platform evaluasi sistem akuisisi data terintegrasi yang dirancang khusus untuk aplikasi otomotif dan industri. Ia menggabungkan ADC dual 20-bit Σ-Δ bersama dengan subsistem MCU yang lengkap. Meskipun tidak menampilkan DAC mandiri terintegrasi, periferal on-chip yang luas dan antarmuka yang dapat diperluas memungkinkan evaluasi kolaboratif dengan DAC eksternal. Hal ini pada dasarnya merupakan solusi evaluasi kombinasi yang berpusat pada ADC dengan dukungan DAC. Papan ini memiliki soket LFCSP 32-pin untuk penyisipan dan penggantian komponen yang cepat, dilengkapi dengan sakelar dan indikator LED untuk membantu debugging. Proyek kode sampel disediakan, yang mencakup fungsi inti seperti konfigurasi periferal, akuisisi sinyal, dan transmisi data.

Kekuatan inti dari papan evaluasi terletak pada integrasi tinggi dan kemampuan beradaptasi skenario. Ia mendukung rentang tegangan suplai yang luas dari 3.6V hingga 18V dan beroperasi dalam rentang suhu -40°C hingga +125°C, sepenuhnya sesuai dengan standar otomotif AEC-Q100. Hal ini memungkinkan penggunaan langsung dalam validasi rantai sinyal untuk aplikasi otomotif seperti powertrain dan diagnostik bodi. Pasca-pemrosesan sinyal sensor dilakukan melalui prosesor Arm Cortex-M3 on-board, dengan data yang ditransmisikan melalui antarmuka LIN. Hal ini secara signifikan mengurangi persyaratan komponen eksternal, memberikan validasi praktis untuk desain rantai sinyal gabungan yang ringkas dan keandalan tinggi.

II. Papan Evaluasi ADC: Tolok Ukur untuk Akuisisi Sinyal Presisi Tinggi

Dirancang khusus untuk validasi kinerja konverter analog-ke-digital, papan evaluasi ADC menggunakan sirkuit catu daya yang dioptimalkan, sistem jam kebisingan rendah, antarmuka input yang presisi, dan modul transmisi data yang terstandarisasi. Desain ini memaksimalkan penghapusan gangguan eksternal, secara setia mereproduksi metrik ADC inti seperti resolusi, laju pengambilan sampel, rentang dinamis (SFDR), dan rasio sinyal-ke-noise (SNR). ADI menawarkan papan evaluasi untuk ADC di berbagai laju dan kelas akurasi, yang mencakup aplikasi ultra-kecepatan tinggi, presisi tinggi, dan daya rendah untuk memenuhi berbagai persyaratan dari inspeksi industri hingga komunikasi radar.

Papan evaluasi AD9625-2.0EBZ mencontohkan kemampuan penilaian ADC rentang dinamis tinggi ADI. Dirancang khusus untuk ADC ultra-kecepatan tinggi 12-bit, 2.0 GSPS AD9625, ia berfungsi sebagai alat validasi inti untuk aplikasi radar dan instrumentasi kelas atas. Menampilkan arsitektur yang sepenuhnya diferensial, papan menggabungkan bandwidth input yang dioptimalkan dan konektor SMA untuk integrasi sinyal frekuensi tinggi yang mulus. Sumber jam ultra-jitter rendah on-board mendukung pengalihan dua arah antara referensi internal dan input jam eksternal, memastikan kemurnian jam pengambilan sampel yang murni dan menjamin kinerja ADC pada laju pengambilan sampel yang tinggi. Transmisi data menggunakan antarmuka serial kecepatan tinggi JESD204B, yang berinteraksi secara mulus dengan platform pemrosesan FPGA melalui konektor FMC standar. Saat digunakan dengan perangkat lunak yang menyertainya, ia memungkinkan analisis intuitif dari karakteristik spektral di berbagai frekuensi input, secara tepat mengukur metrik dinamis utama seperti SFDR (biasanya >70 dBc) dan SNR.

Dalam aplikasi praktis, AD9625-2.0EBZ dengan cepat memvalidasi kemampuan ADC untuk menangkap sinyal lemah di lingkungan dengan kebisingan dan gangguan yang kuat. Ia menemukan penggunaan yang luas dalam radar canggih dan sistem penanggulangan elektronik, penganalisis sinyal vektor, stasiun darat komunikasi satelit, dan skenario serupa. Untuk penelitian universitas dan pengaturan laboratorium, papan evaluasi ini juga menyediakan platform pengujian dunia nyata kelas industri untuk kursus teknologi konversi data berkecepatan tinggi, memfasilitasi integrasi teori dengan praktik teknik.

III. Papan Evaluasi DAC: Platform Verifikasi untuk Pembangkitan Sinyal Kesetiaan Tinggi

Papan evaluasi DAC berfokus pada verifikasi kinerja konverter digital-ke-analog. Melalui antarmuka input digital yang dioptimalkan, sirkuit manajemen jam, dan modul driver output, ia memungkinkan kontrol dan pengukuran yang tepat dari sinyal output DAC. Parameter verifikasi inti termasuk bandwidth output, rentang dinamis bebas palsu (SFDR), distorsi intermodulasi (IMD), dan konsumsi daya. Papan evaluasi DAC ADI mencakup seluruh rentang produk dari frekuensi radio (RF) ke frekuensi menengah (IF), dan dari konfigurasi saluran tunggal ke multi-saluran, melayani aplikasi kelas atas seperti infrastruktur komunikasi nirkabel, sistem radar, dan instrumentasi.

Papan evaluasi untuk AD9176 berfungsi sebagai solusi tolok ukur untuk evaluasi DAC RF berkinerja tinggi. Dirancang khusus untuk DAC RF dual-channel, 16-bit, 12.6 GSPS AD9176, ia mendukung verifikasi pembangkitan sinyal untuk aplikasi nirkabel multi-band. Papan ini memiliki antarmuka JESD204B 8-kawat 15.4 Gbps yang mendukung mode operasi single-band dan multi-band. Setiap DAC RF menggabungkan tiga saluran input data multiplexed yang dapat dilewati dengan laju data multiplexed maksimum 3.08 GSPS. Ia juga mengintegrasikan pengganda jam PLL on-chip berkinerja tinggi dan filter interpolasi yang dapat dikonfigurasi, memungkinkan sintesis frekuensi hingga 6 GHz. Melalui desain rendah-palsu khusus, ia mencapai −83 dBc IMD3 sinyal ganda dan<−80 dBc SFDR pada 1.84 GHz, memenuhi persyaratan pembangkitan sinyal RF presisi tinggi.

Papan evaluasi EVAL-AD9142, yang sesuai dengan produk AD9142 klasik, menargetkan desain TxDAC+ dual-channel 16-bit, 1600 MSPS. Ia mengintegrasikan chip distribusi jam AD9516 dan modulator kuadratur ADL5372, memungkinkan evaluasi kolaboratif cepat dari DAC dan modulator IQ. Papan mendukung filter interpolasi 2×, 4×, dan 8× yang dapat dikonfigurasi dengan skew delay inheren minimal (<2 DAC clock cycles). Achieving SFDR>85 dBc pada bandwidth 300 MHz, cocok untuk verifikasi rantai transmisi sinyal di stasiun pangkalan 3G/4G, repeater broadband, dan aplikasi instrumentasi.

IV. Kriteria Seleksi dan Skenario Aplikasi untuk Papan Evaluasi Kategori III

Papan evaluasi konverter data Kategori III ADI dirancang untuk berbagai persyaratan pemrosesan sinyal. Perbedaan inti dan skenario yang berlaku dirangkum sebagai berikut:

Papan evaluasi kombo ADC/DAC berpusat pada rantai sinyal terintegrasi, ideal untuk pengembangan tingkat sistem yang memerlukan akuisisi data dan pembangkitan sinyal secara bersamaan. Ini termasuk sistem kontrol loop tertutup industri dan verifikasi tautan sensor-aktuator dalam elektronik otomotif, secara efektif mengurangi kompleksitas integrasi sistem. Papan evaluasi ADC memprioritaskan verifikasi kinerja akuisisi sinyal, berfungsi sebagai alat penting untuk mengembangkan peralatan ujung penerima seperti radar, osiloskop, dan pencatat data. Kriteria seleksi utama termasuk kemurnian jam, bandwidth input, dan rentang dinamis. Papan evaluasi DAC berfokus pada kualitas pembangkitan sinyal, melayani perangkat ujung pemancar seperti stasiun pangkalan, generator sinyal, dan pemancar radar. Faktor seleksi inti adalah bandwidth output, distorsi palsu, dan laju data.

Selanjutnya, semua papan evaluasi ADI menyediakan dukungan dokumentasi teknis yang komprehensif, termasuk manual pengguna, lembar data, kode contoh, dan driver. Papan evaluasi kelas atas tertentu (seperti ADS7-V2EBZ) juga kompatibel dengan platform pengembangan FPGA, mendukung verifikasi protokol antarmuka berkecepatan tinggi dan pengembangan algoritma khusus, sehingga semakin meningkatkan fleksibilitas dalam skenario evaluasi.